什么是康普顿背散射技术？

康普顿背散射技术，受益于在非破坏性检测(NDT)设备中引入计算机技术，就像本章讨论的其他方法一样。

现在，它已经是一种公认的用于塑料和轻金属的NDT技术。扫描器包括一个X射线管和一个由多个元件组成的探测器，如图4-17所示。一个准直器将射线束减小到0.5毫米直径，因此它不能直接照射探测器上。

当光子和电子在材料中碰撞时，初级X射线会在所有方向上散射为稍微软的辐射，从而部分地从材料反射回扫描器。这种次级辐射随后通过特制的光圈被探测器捕获，参见图4-17。

探测器由20个或更多的探测器元件组成，如A’、B’、C’等，每个元件测量来自物体某一深度(A、B、C)的背散射辐射量，如图4-17所示。每个传感器元件都专注于某个特定深度。圆柱形扫描器尺寸仅为7 x 7厘米，并按网格扫描物体。通过将扫描系统与数据处理器连接，一个全面的“康普顿图像”会展现出物体及其可能存在的缺陷。这种方法的优势是物体只需从一侧进入。例如，它经常用于蜂窝结构和复合材料，穿透深度约为50毫米。该方法（仍然）相当缓慢；扫描一个50平方厘米的表面大约需要5分钟。然而，另一个优点是，由于每个单独探测器元件的“准焦点”，缺陷的深度位置能迅速被探知。